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                二維測量顯微鏡 107J
              顯微鏡 >> 顯微鏡 >> 測量顯微鏡.光切法顯微鏡

              產品名稱:二維測量顯微鏡
              產品型號:107J

              詢購熱線: 021-65730171

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              用途概述

              一般通過透反射照明方式,通過觀察和測量系統對精密件的幾何量(長度,角度)進行觀察,分析,測量。特別適用于錄像機磁鼓,大規模集成電路線寬,小型零件(如鐘表零件)及其他精密件幾何參數的測量。多用于計量室,生產作業線以及科學研究部門。

              產品特點

              1. 測量顯微鏡是光學計量儀器之一種。結構簡單,操作方便,適用范圍廣。

              2. 適合測量各種復雜零件,精確度高。

              3. 可根據客戶不同要求進行定制。

              技術參數

              型號

              107J

              107JA

              107JC

              107JV

              鏡筒

              雙目,粗動90MM,微動:2MM

              目鏡

              BWF   10X (焦距25MM

              物鏡

              4X

              數值孔徑:0.1

              工作距離:17.5

              視場直徑: 4.5

                  距:28.8

              10X

              數值孔徑:0.25

              工作距離:11.6

              視場直徑: 1.8

                  距:15.4

              40X

              數值孔徑:0.65

              工作距離:0.66

              視場直徑: 0.45

                  距:4.4

              總放大倍數

              40X   100X  400X

              移動測量范圍

              X50MM,Y50MM,Z2MM比較測量

              X50MM

              Y50MM

              Z50MM

              測微器分度值

              0.001

              0.001

              0.0005

              0.0005

              測量讀數方式

              機械手輪

              三豐數顯手輪

              數顯箱

              數顯箱

              光源

              透射照明 ,反射照明,斜射照明  8V12W

              工作臺

              0-360  °,分辨率:5 尺寸:150MM*150MM,玻璃平臺72MM

              儀器測量準確精度

              ±(3L/15μm, L表示被測件長度MM,儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差

              選購件:該儀器還可以選購不同物鏡,達到不同放大效果:3X,5X,8X,20X,40X,50X,80X等;不同照明:垂直照明,冷光源等; CCD成像系統。電腦軟件測量;可以根據客戶要求改制,比如工作臺加大,工作行程加長; Z軸測量范圍改為100MM等。

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              本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度。
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